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提供一种芯片信息校验的方法，提供一集成电路晶圆，其包括多个被测芯片；获取被测芯片的识别芯片信息；比较同一个被测芯片的后台芯片信息和识别芯片信息，以确认二者是否匹配；若不匹配，查找不匹配原因，在查找到原因后纠正不匹配原因，并返回获取每个被测芯...
该专利属于上海华岭集成电路技术股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过上海华岭集成电路技术股份有限公司授权不得商用。

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