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本发明公开了一种基于信息融合的良率损失根因分析方法，涉及OLED、显示器、面板及半导体制造业技术领域。本发明针对良率损失的根因分析，构建了一种基于信息融合的问题参数快速自动定位方法和因子水平自动划分方法，解决了传统分析方法自动化程度低，数据...
该专利属于上海喆塔信息科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过上海喆塔信息科技有限公司授权不得商用。

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