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本发明公开了一种自旋转扫描式线结构光三维测量装置标定方法，属于三维测量技术领域。自旋转扫描式线结构光三维测量装置主要由线结构光轮廓测量仪和高精度转台构成，通常自旋转扫描式线结构光三维测量装置的坐标系基于高精度旋转台的旋转轴心建立，与线结构光...
该专利属于中国科学院光电技术研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国科学院光电技术研究所授权不得商用。

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