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本申请提供了一种基于March算法的DRAM故障检测方法和装置，运用于半导体集成电路测试技术领域，通过不同数据背景对一个存储单元的反复读写，能够检测到原有March算法难以发现的单元内不同位之间的耦合故障，同时能够检测内存单元的读写稳定性，...
该专利属于深圳市宏旺微电子有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳市宏旺微电子有限公司授权不得商用。

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