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公开了基于高斯径向基函数的光学自由曲面表征方法，通过明确高斯径向基函数表达式、获取待拟合光学自由曲面的待拟合数据点集、将待拟合数据进行归一化处理、根据归一化后的待拟合数据计算梯度向量、分析处理梯度向量、划分子孔径、设置高斯径向基函数基底数、...
该专利属于北京理工大学所有，仅供学习研究参考，未经过北京理工大学授权不得商用。

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