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本公开涉及一种芯片修调的方法、装置、存储介质和电子设备，涉及集成电路的测试领域，该方法包括：获取待测芯片的区域信息，区域信息能够指示待测芯片在晶片上的中央区域或边缘区域，根据区域信息和目标参数对应的标准值，确定目标参数对应的修正初始值，按照...
该专利属于比亚迪股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过比亚迪股份有限公司授权不得商用。

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