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一种基于光栅投影识别的二维平面位移测量装置的结构涉及高精密数字化位移测量技术，解决现有测量技术中，光路复杂、测量分辨力低，且不易于工业现场应用等缺点。该结构包括：二维光栅、读数头、光源和安装板；二维光栅安装在安装板内，安装板上设有安装孔；读...
该专利属于中国科学院长春光学精密机械与物理研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国科学院长春光学精密机械与物理研究所授权不得商用。

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