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本实用新型涉及一种样品承载装置，用于X射线形貌仪中测试晶圆的X射线形貌像，所述样品承载装置包括基座和设置于所述基座上的样品承载台，所述样品承载装置还包括设置于所述样品承载台的边缘、或围设于所述样品承载台的四周的围挡结构，以及用于对放置于所述...
该专利属于西安奕斯伟硅片技术有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过西安奕斯伟硅片技术有限公司授权不得商用。

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