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激光扫描共聚焦显微镜扫描畸变现象的全场校正方法技术
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文档序号:2670675
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激光扫描共聚焦显微镜扫描畸变现象的全场校正方法,采用标准光栅试件,用LSCM扫描云纹方法得到扫描云纹图像,再通过云纹相移技术对原始图像进行四步相移处理得到相移云纹图像,根据云纹相移理论由相移得到的云纹图得出相位图,解包裹后得到原始相位图,根...
该专利属于清华大学所有,仅供学习研究参考,未经过清华大学授权不得商用。
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