下载用于测试系统的处理器更换套件的技术资料

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一种示例性系统包括:容器,该容器用于容纳被测器件(DUT);天线,该天线用于与该DUT交换信号,其中该信号中的至少一些信号用于执行该DUT的辐射测试;和盖,该盖被配置为与该容器配合以形成用于包封该DUT的壳体。该壳体用于以物理地或电磁地中的...
该专利属于泰瑞达公司所有,仅供学习研究参考,未经过泰瑞达公司授权不得商用。

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