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一种包含纳米缝的金属膜透镜，其特征在于：首先确定入射波，再选取合适的基底材料，在基底上再蒸镀一层金属膜，让入射波垂直于金属膜表面入射，计算入射波在所取的金属膜中的趋肤深度；在金属膜上选定ｘ轴方向，在ｘ轴正方向上抽样；然后通过计算每个抽样点的...
该专利属于中国科学院光电技术研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国科学院光电技术研究所授权不得商用。

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