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本申请提供了一种基于March算法优化的DRAM检测故障方法、装置及系统，运用于半导体集成电路测试领域，其通过地址定位单元，以定位DRAM存储器内各单元的读写地址；通过算法加载单元，加载预存的新型改进算法以获取与读写地址数量和位置相应的测试...
该专利属于深圳市宏旺微电子有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳市宏旺微电子有限公司授权不得商用。

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