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本实用新型公开了一种四拼直排芯片测试治具，包括基座，所述基座的上部设有芯片槽，所述芯片槽的前后两侧中间分别开设有第一感应槽、第二感应槽，所述第一感应槽、芯片槽、第二感应槽呈直线排列且前后贯穿于基座上，所述第一感应槽的深度和第二感应槽的深度不...
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