一种四拼直排芯片测试治具制造技术

本实用新型专利技术公开了一种四拼直排芯片测试治具，包括基座，所述基座的上部设有芯片槽，所述芯片槽的前后两侧中间分别开设有第一感应槽、第二感应槽，所述第一感应槽、芯片槽、第二感应槽呈直线排列且前后贯穿于基座上，所述第一感应槽的深度和第二感应槽的深度不相等。本实用新型专利技术的有益效果是：通过第一销钉引导定位，可保证芯片放置精准，不会出现压伤、压坏，四个芯片槽可同时对四个芯片进行测试，芯片测试效率高，且本治具结构简单，便于生产。

【技术实现步骤摘要】
一种四拼直排芯片测试治具
本技术涉及芯片测试
，具体为一种四拼直排芯片测试治具。
技术介绍
芯片生产需经过几百步的工艺，任何一步的错误都可能导致器件失效，因此芯片检测变得越来越重要，采用好的芯片测试设备和方法是提高芯片制造水平的关键。常见的芯片检测治具，一般一次只能检测一个或两个芯片，检测效率低下，而且芯片在放置过程中没有过压保护，经常出现过压导致芯片被压伤、压坏，造成极大的浪费。
技术实现思路
本技术的目的在于提供一种四拼直排芯片测试治具，以解决上述
技术介绍
中提出的问题。为实现上述目的，本技术提供如下技术方案：一种四拼直排芯片测试治具，包括基座，所述基座的上部设有芯片槽，所述芯片槽的前后两侧中间分别开设有第一感应槽、第二感应槽，所述第一感应槽、芯片槽、第二感应槽呈直线排列且前后贯穿于基座上，所述第一感应槽的深度和第二感应槽的深度不相等。进一步优选，所述基座通过垫片、螺钉连接在测试机台上。进一步优选，所述芯片槽为四个相同结构呈直线均匀排列在基座上，且每个芯片槽均对应设有感应槽。<br>进一步优选，所本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种四拼直排芯片测试治具，包括基座（1），所述基座（1）的上部设有芯片槽（4），所述芯片槽（4）的前后两侧中间分别开设有第一感应槽（2）、第二感应槽（3），其特征在于：所述第一感应槽（2）、芯片槽（4）、第二感应槽（3）呈直线排列且前后贯穿于基座（1）上，所述第一感应槽（2）的深度和第二感应槽（3）的深度不相等。/n

【技术特征摘要】
1.一种四拼直排芯片测试治具，包括基座（1），所述基座（1）的上部设有芯片槽（4），所述芯片槽（4）的前后两侧中间分别开设有第一感应槽（2）、第二感应槽（3），其特征在于：所述第一感应槽（2）、芯片槽（4）、第二感应槽（3）呈直线排列且前后贯穿于基座（1）上，所述第一感应槽（2）的深度和第二感应槽（3）的深度不相等。


2.根据权利要求1所述的一种四拼直排芯片测试治具，其特征在于：所述基座（1）通过垫片（6）、螺钉（7）连接在测试机台上。


3.根据权利要求1所述的一种四拼直排芯片测试治具，其特征在于：所述芯片槽（4）为四个相同...

【专利技术属性】
技术研发人员：荣国青，门蒙，张健星，
申请(专利权)人：苏州辉垦电子科技有限公司，
类型：新型
国别省市：江苏;32