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精确地检测Ｘ－射线的装置和方法使用了光电二极管基板，其中向光电二极管施加第一反向电压，以根据入射到光电二极管上的Ｘ－射线产生光电探测电压。在响应当前帧中施加于光电二极管的Ｘ－射线输出图像信号之后，向光电二极管施加正向偏置，从而在下一帧中可以...
该专利属于三星电子株式会社所有，仅供学习研究参考，未经过三星电子株式会社授权不得商用。

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