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一种用于Ｘ射线源剂量率监控的穿透电离室，它包括下壳体（１）、上壳体（１１），在下壳体（１）内从下至上依次布置第一电极绝缘板（６）、第一电极板（４）、第二电极绝缘板（７）、保护环（３）、第三电极绝缘板（８）、第二电极板（５）、第四电极绝缘板（...该专利属于清华大学、清华同方威视技术股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过清华大学、清华同方威视技术股份有限公司授权不得商用。
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