用于X射线源剂量率监控的穿透电离室制造技术

一种用于Ｘ射线源剂量率监控的穿透电离室，它包括下壳体（１）、上壳体（１１），在下壳体（１）内从下至上依次布置第一电极绝缘板（６）、第一电极板（４）、第二电极绝缘板（７）、保护环（３）、第三电极绝缘板（８）、第二电极板（５）、第四电极绝缘板（９）和可将上述电极板、保护环、绝缘板固定的板簧（１０），上壳体（１１）由螺钉与下壳体（１）固定而形成灵敏区、充排气区及接线区，所设充气管（１６）穿过下壳体（１）通向灵敏区，其特征在于：所述灵敏区的端面设有对充气管（１６）起保护作用的保护罩（１２），所述接线区的端面设有由两个插座组成的接线盒（１５），第一电极板（４）与第二电极板（５）的电极引线（１７）置于接线盒（１５）内，通过软线分别连接到第一插座（１３）和第二插座（１４）用于输入高压和输出测量信号，所述下壳体（１）的上端面置有橡胶密封圈（２）。（*该技术在2012年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本技术涉及辐射成像系统，特别是辐射成像系统所用的穿透电离室探测器装置，属于辐射检测
现有技术中的穿透电离室的产品具有结构简单对射线吸收小等优点，但是其密封性能差，特别是在潮湿的环境下或周围气体成分复杂的环境下，极易造成电离室工作不正常。又由于高压输入和信号输出只用了一根双层屏蔽电缆，因此高压通过绝缘层到信号线的漏电流，干扰信号也可通过高压层耦合到信号线上，影响了电离室的输出，必然影响测量精度。为了达到上述的专利技术目的，本技术的技术方案以如下方式实现一种用于X射线源剂量率监控的穿透电离室，它包括下壳体、上壳体，在下壳体内从下至上依次布置第一电极绝缘板、第一电极板、第二电极绝缘板、保护环、第三电极绝缘板、第二电极板、第四电极绝缘板和可将上述电极板、保护环、绝缘板固定的板簧。上壳体由螺钉与下壳体固定而形成灵敏区、充排气区及接线区。所设充气管穿过上壳体或者下壳体通向灵敏区。其结构特点是所述灵敏区的端面设有对充气管起保护作用的保护罩。所述接线区的端面设有由两个插座组成的接线盒。第一电极板与第二电极板的电极引线置于接线盒中，通过软线分别连接到第一插座和第二插座用于输入高压和输出测量信号。在下壳体的上端面置有橡胶密封圈。本技术由于采用了密封的结构，可以使灵敏区的气体不受外界气体的影响，避免了由于灵敏区气体成分变化造成的探测效率和灵敏度的变化，提高了探测稳定性，增强了环境适应性。接线区使用上述结构，减小了高压对探测器输出信号的影响，和抗电磁骚扰能力，大大提高了测量精度。附图说明图1是本技术的结构示意图；图2是图1的俯视图；图3是本技术的使用状态图。以下结合附图及具体实施方式对本技术做进一步说明。参看图3，加速器发出射线穿过本技术穿透电离室和被测物体，到达成像探测器阵列。使用本技术时，将穿透电离室固定在靠近射线源靶点的准直器上，与后面电路相连，就可进行工作了。使用中，当射线进入穿透电离室的灵敏区，使灵敏区的气体发生电离，产生的正离子和电子在电场的作用下向两电极板移动，而输出形成电流信号。由于在两电极板之间加有高压，形成的漏电流通过保护环直接流向接地的电离室外壳而不影响输出的信号。射线剂量率不同，进入穿透电离室的射线的强度不同，则输出电流强度不同，就可实时的监控加速器的剂量率了。权利要求1.一种用于X射线源剂量率监控的穿透电离室，它包括下壳体(1)、上壳体(11)，在下壳体(1)内从下至上依次布置第一电极绝缘板(6)、第一电极板(4)、第二电极绝缘板(7)、保护环(3)、第三电极绝缘板(8)、第二电极板(5)、第四电极绝缘板(9)和可将上述电极板、保护环、绝缘板固定的板簧(10)，上壳体(11)由螺钉与下壳体(1)固定而形成灵敏区、充排气区及接线区，所设充气管(16)穿过下壳体(1)通向灵敏区，其特征在于所述灵敏区的端面设有对充气管(16)起保护作用的保护罩(12)，所述接线区的端面设有由两个插座组成的接线盒(15)，第一电极板(4)与第二电极板(5)的电极引线(17)置于接线盒(15)内，通过软线分别连接到第一插座(13)和第二插座(14)用于输入高压和输出测量信号，所述下壳体(1)的上端面置有橡胶密封圈(2)。2.按照权利要求1所述的穿透电离室，其特征在于所述的接线盒(15)为金属材料制成。专利摘要一种用于X射线源剂量率监控的穿透电离室，包括下壳体、上壳体。在下壳体内从下至上布置有多层电极绝缘板、两层电极板、保护环和可将上述电极板、保护环及多层电极绝缘板固定的板簧。上壳体由螺钉与下壳体固定形成灵敏区、充排气区及接线区。所设充气管穿过下壳体通向灵敏区。其结构特点是，在灵敏区的端面设有对充气管起保护作用的保护罩。在下壳体的上端面设有橡胶密封圈。接线区的端面设有由两个插座组成的接线盒。两电极板的电极线置于接线盒内，由软线分别连接到两个插座上，用于输入高压和输出测量信号。同现有技术相比，本技术可增强对环境的适应性并能提高测量精度。文档编号G01N23/02GK2591644SQ0228976公开日2003年12月10日 申请日期2002年12月16日 优先权日2002年12月16日专利技术者李元景, 缪庆文, 张清军, 高文焕, 代主得, 郭红云 申请人:清华大学, 清华同方威视技术股份有限公司本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】

【专利技术属性】
技术研发人员：李元景，缪庆文，张清军，高文焕，代主得，郭红云，
申请(专利权)人：清华大学，清华同方威视技术股份有限公司，
类型：实用新型
国别省市：