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本发明公开了一种半导体结构及其制备方法,其中,所述半导体结构包括:基板;导线层,位于所述基板上;介质层,位于所述导线层上;沟槽,位于所述介质层中,所述沟槽的底端连接所述导线层,所述沟槽的侧壁具有倾斜角度;阻挡层,位于所述介质层和所述沟槽底端...该专利属于晶芯成(北京)科技有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过晶芯成(北京)科技有限公司授权不得商用。
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本发明公开了一种半导体结构及其制备方法,其中,所述半导体结构包括:基板;导线层,位于所述基板上;介质层,位于所述导线层上;沟槽,位于所述介质层中,所述沟槽的底端连接所述导线层,所述沟槽的侧壁具有倾斜角度;阻挡层,位于所述介质层和所述沟槽底端...