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一种高密度测试探针，包括针体，所述针体的前端为用于接触测试点的探测头，所述针体的后端为扁平片，所述针体的前端的探测头呈圆锥状，所述针体后端的扁平片外缘呈弧形。在使用时，需要测试仪相配合，测试仪内设有竖直放置的压簧，测试探针后端的扁平片卡设在...
该专利属于沈芳珍所有，仅供学习研究参考，未经过沈芳珍授权不得商用。

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