下载半导体装置和光电探测系统的技术资料

文档序号:26433166

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本实用新型公开了一种半导体装置和光电探测系统,该半导体装置可以包括:外延层,其包括呈第一导电类型的第一部分和第二部分,并且在第一部分中的远离第二部分的一侧形成有呈与所述第一导电类型相反的第二导电类型的第一掺杂区、第二掺杂区、以及呈第一导电类...
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