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本发明涉及一种辉光放电质谱检测高纯银样品的制样方法，所述高纯银样品的长度为6‑8mm，宽度为3‑5mm；所述制样方法包括：将所述高纯银样品依次酸洗、第一漂洗、第二漂洗、干燥及压样处理，得到待检测银样品。本发明中通过对制样过程中的酸洗的设计，...
该专利属于宁波江丰电子材料股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过宁波江丰电子材料股份有限公司授权不得商用。

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