专利查询
首页
专利评估
登录
注册
当前位置:
首页
>
专利查询
>
中国科学院自动化研究所
>
基于高精度电感测头的逐级递推式纳米级测量系统技术方案
>技术资料下载
下载基于高精度电感测头的逐级递推式纳米级测量系统的技术资料
文档序号:2641285
温馨提示:您尚未登录,请点
登陆
后下载,如果您还没有账户请点
注册
,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。
一种基于高精度电感测头的逐级递推式纳米级测量系统,包括控制部分,其特征在于还包括: 铁心(9)放置在线圈(10)和(8)之间; 测杆(7),其一端连接铁心(9),另一端连接测杆触头(5); 微进给装置(6)位于测杆(7)之...
该专利属于中国科学院自动化研究所所有,仅供学习研究参考,未经过中国科学院自动化研究所授权不得商用。
详细技术文档下载地址
温馨提示:您尚未登录,请点
登陆
后下载,如果您还没有账户请点
注册
,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。