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数字集成电路测试仪器及测试探头制造技术
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文档序号:2638340
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一种利用数字集成电路的逻辑状态图和真值表来观察判断其功能的在线、离线测试仪器,逻辑状态图是三态实时显示的,可测TTL和各种电源电压的CMOS电路,可以对动态运行的电路实行瞬态锁定,还能对被测IC进行多点同时双向多重强迫驱动,有八种触发驱动信...
该专利属于四川大学所有,仅供学习研究参考,未经过四川大学授权不得商用。
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