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测试方法，包括完全建立测试设备和处理器后和测试操作开始前使用一种处理器接触检测装置检测出与待测ＩＣ装置的处理器接触的步骤，该处理器接触检测装置包括：安装到处理器的处理器接触检测板，有多个直接与ＩＣ装置外部端子接触的引出脚和布线电路，所述布线...
该专利属于三星电子株式会社所有，仅供学习研究参考，未经过三星电子株式会社授权不得商用。

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