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一种用于微波元件的自动测试系统。该测试系统包括内部可转换控制的校正基准。作为校正程序的一部分，测量来自源的入射功率。在该测量过程中，转换校正基准来改变反射回给源的功率的量。在发生这种变化的过程中连续测量该入射波功率中的变化。该测量结果用来决...
该专利属于泰拉丁公司所有，仅供学习研究参考，未经过泰拉丁公司授权不得商用。

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