专利查询
首页
专利评估
登录
注册
当前位置:
首页
>
专利查询
>
佛姆费克托公司
>
半导体圆片测试用高性能探针系统技术方案
>技术资料下载
下载半导体圆片测试用高性能探针系统的技术资料
文档序号:2634610
温馨提示:您尚未登录,请点
登陆
后下载,如果您还没有账户请点
注册
,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。
一种用于在一集成电路(IC)测试器(52)与待测试IC(56)表面上的输入/输出、电源及接地焊盘(54)之间提供信号路径的探针系统,其包括一探针板总成(50)、一挠性电缆(86)及一组设置用于接触IC上的I/O焊盘(54)的探针(80)。探...
该专利属于佛姆费克托公司所有,仅供学习研究参考,未经过佛姆费克托公司授权不得商用。
详细技术文档下载地址
温馨提示:您尚未登录,请点
登陆
后下载,如果您还没有账户请点
注册
,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。