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集成电路芯片瞬态电流测量方法及其系统属于集成电路测试领域，其特征在于，它含有：根据激励约束产生激励图形；激励图形分组及建立分组索引；瞬态电流波形的提取；对采集到的瞬态电流进行数据处理并形成数据文件；对数据文件按需进行实验分析等步骤。本发明基...
该专利属于清华大学所有，仅供学习研究参考，未经过清华大学授权不得商用。

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