集成电路芯片瞬态电流测量方法及其系统技术方案

集成电路芯片瞬态电流测量方法及其系统属于集成电路测试领域，其特征在于，它含有：根据激励约束产生激励图形；激励图形分组及建立分组索引；瞬态电流波形的提取；对采集到的瞬态电流进行数据处理并形成数据文件；对数据文件按需进行实验分析等步骤。本发明专利技术基于普通集成电路测试设备和高速混合信号数字采样示波器等普通设备，扩展了普通集成电路测试设备的功能，同时，建立了一套从激励图形生成到测量、处理数据的完整流程，提高了工作效率。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于集成电路测试领域。
技术介绍
随着集成电路复杂性的提高和相关领域的应用需求，集成电路芯片实时功耗测量在芯片设计和制造过程中的重要性正在逐步提升，仅仅进行平均功耗、静态功耗的测量已经不能完全满足新的需要。集成电路芯片工作的实时功率信息为芯片低功耗设计、密码集成电路芯片安全度评估、失效分析提供了有价值的参考依据。高速高精度的功耗采集数据可以准确地反应集成电路芯片工作的实时功率消耗情况，为有效地降低芯片功耗，检测芯片保密程度提供直接的分析凭据。目前的集成电路测试系统一般都不具备瞬时电流的测试功能。少数具有瞬时电流测量能力的测试设备则价格昂贵。一般的芯片电流测量的激励产生、数据采集与数据处理是分开的独立步骤，软硬件间和不同工具软件间的数据交换需要较多的人工工作。缺少一个集成的系统来提高效率。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种集成电路芯片顺势电流测量方法及其系统。√本专利技术所述的测量方法的特征在于它依次含有以下步骤第1步计算机根据用户提供的特定约束即激励约束产生相应的激励图形，所述激励图形是指集成电路工作时在各个时钟周期的激励向量组成的一个序列，所述激励向量是指集成电本文档来自技高网...

【技术保护点】
集成电路芯片瞬态电流测量方法，其特征在于，它依次含有以下步骤：第１步：计算机根据用户提供的特定约束即激励约束产生相应的激励图形，所述激励图形是指集成电路工作时在各个时钟周期的激励向量组成的一个序列，所述激励向量是指集成电路所 有输入引脚的用二进制表示的值组成的一组数，所述的特定约束是指用户输入的二进制表示的激励图形中特定激励向量特定位的取值；第２步：计算机为每个激励图形分配一个唯一的索引作为标识，同时根据上述约束把满足其一约束的所有图形分配到一组 中，并为各组分配相应的分组索引；第３步：瞬态电流波形的采集，它包含以下步骤：第３．１步：...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：孙义和，李翔宇，
申请(专利权)人：清华大学，
类型：发明
国别省市：11[中国|北京]