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本发明涉及用于对试样进行电气测试，特别是用于对晶片进行电气测试的测试装置及其制作方法。该测试装置具有分配给试样用的、触针布局构造的、装有针状触点构件的接触头，具有带接触面的电气连接构件，接触面与转换接受试样的测试平面的接触件端部一起，处于接...
该专利属于精炼金属股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过精炼金属股份有限公司授权不得商用。

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