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本发明公开一种阵列式扰振测量装置，力传感器呈阵列间隔分布在下平台和上平台之间，力传感器至少设置九个呈阵列式分布；被测振源在测试过程中会产生扰振力；相比于传统的四点测量结构，下平台与上平台的尺寸更大，可支撑更大的被测振源，能够针对大尺寸大质量...
该专利属于中国科学院长春光学精密机械与物理研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国科学院长春光学精密机械与物理研究所授权不得商用。

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