下载一种薄膜的厚度测量系统的技术资料

文档序号:26340464

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本申请实施例提供一种薄膜的厚度测量系统,包括:探测光纤、第一光纤探头、第二光纤探头、光电转换器、解调放大器、光源、调制脉冲发生器、相敏检波器、选通放大器、整流滤波器、积分型抗干扰器、数模转换电路、单片机以及显示模块。其中,探测光纤包括发射光...
该专利属于广东海洋大学;广东海洋大学深圳研究院;深圳和光新材料科技有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过广东海洋大学;广东海洋大学深圳研究院;深圳和光新材料科技有限公司授权不得商用。

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