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一种基于级联电吸收调制器产生超短光脉冲的测试夹具，其特征在于，包括：一架体，该架体为一边开口的框体，在该框体的底面固接有一底板；两射频同轴连接器，该射频同轴连接器固定在该架体的框体的开口两侧端，该射频同轴连接器均朝向架体之外；两段微带线，该...
该专利属于中国科学院半导体研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国科学院半导体研究所授权不得商用。

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