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耦合半导体试验装置和被试验半导体装置的接口电路制造方法及图纸
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下载耦合半导体试验装置和被试验半导体装置的接口电路的技术资料
文档序号:2632492
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该接口电路(20)具有n个缓冲电路(23.1~23.n)、在从测试器1向n个DUT(27.1~27.n)提供信号时,连接测试器1的外部插头14和n个缓冲电路(23.1~23.n)的输入节点,同时将n个缓冲电路(23.1~23.n)的输出节点...
该专利属于株式会社瑞萨科技所有,仅供学习研究参考,未经过株式会社瑞萨科技授权不得商用。
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