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适于老化测试的系统和方法技术方案
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下载适于老化测试的系统和方法的技术资料
文档序号:2632360
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描述了用于减少老化测试期间的温度耗散的系统和方法。使多个待测试器件均经受体偏置电压。该体偏置电压减少或基本上最小化与该待测试器件关联的泄漏电流。因此,减少老化期间的散热。...
该专利属于知识风险基金有限责任公司所有,仅供学习研究参考,未经过知识风险基金有限责任公司授权不得商用。
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