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本发明公开了一种测量ＰＩＮ二极管反向恢复时间的方法，包括：Ａ．测量Ｎ区少子寿命τ↓［ｐ］，设定正反向峰值电流Ｉ↓［ｆ］和Ｉ↓［ｒ］的比值；Ｂ．将测量出的Ｎ区少子寿命τ↓［ｐ］，以及设定的正反向峰值电流Ｉ↓［ｆ］和Ｉ↓［ｒ］的比值，代入超越方...
该专利属于中国科学院微电子研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国科学院微电子研究所授权不得商用。

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