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提供一种吸光分析系统，具备：检测器，对透过了气体的光的强度进行检测；总压传感器，测量气体的总压；干扰气体分压‑吸光度关系存储部，存储干扰气体分压‑吸光度关系数据；干扰气体分压推定部，基于由总压传感器测量出的总压来推定干扰气体的分压；干扰气体...
该专利属于株式会社堀场STEC所有，仅供学习研究参考，未经过株式会社堀场STEC授权不得商用。

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