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本发明涉及一种用于微波功率放大器芯片在片测试的方法及其测试系统，属于微波通信中的芯片测试技术领域。特征在于通过脉冲方式的偏置电压大大降低了热量对微波功率放大器性能上的影响，真正的实现了芯片的探针台在片测试，免除了封装以及外部散热系统的安装。...
该专利属于中国科学院上海微系统与信息技术研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国科学院上海微系统与信息技术研究所授权不得商用。

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