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本发明一种芯片测试机构的测试方法及其装置。其中芯片测试机构具有绝缘测试座与芯片压制金属块。绝缘测试座被至少一接脚贯穿，此接脚具有第一端部与第二端部，且绝缘测试座曝露出第一端部与第二端部。芯片压制金属块具有至少一压制部，此压制部适于电性连接第...
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