芯片测试机构的测试方法及其装置制造方法及图纸

本发明专利技术一种芯片测试机构的测试方法及其装置。其中芯片测试机构具有绝缘测试座与芯片压制金属块。绝缘测试座被至少一接脚贯穿，此接脚具有第一端部与第二端部，且绝缘测试座曝露出第一端部与第二端部。芯片压制金属块具有至少一压制部，此压制部适于电性连接第一端部。此测试装置包括电源供应单元与至少一发光元件。电源供应单元用以供应电源电压，而此发光元件用以电性连接于电源电压与第二端部之间，当压制部电性连接第一端部且芯片压制金属块电性连接至共同电位时，发光元件发光。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种芯片测试机构的测试方法及其装置，且特别是有关于 一种可同时检测多个芯片测试机构接脚的测试方法及其机构。
技术介绍
芯片测试机构，广泛地应用在集成电路芯片的各种测试场合，用以辅 助测试集成电路芯片的各脚位功能是否正常。举例来说，假设所欲测试的芯片是6个接脚，如图1所示。图1为6 接脚芯片的俯视图。因此， 一般典型的芯片测试机构的侧视剖面图，如图 2所示。请参照图2，其包括绝缘测试座110(即一般所谓的socket)、金 属对位件120与芯片压制金属块130，且绝缘测试座110被接脚(如140 所示)所贯穿。由于绝缘测试座110是为了测试6接脚芯片，因此共有6 个接脚140贯穿绝缘测试座110，且如图2所示般地成对贯穿绝缘测试座 110。当芯片放置在区域150中的时候，使用者就可以将芯片压制金属块 130朝方向160压制芯片，以进行芯片接脚的测试。然而，若是绝缘测试座110的接脚140有所损坏，例如接触不良或是 阻抗太大，进而影响芯片接脚的检测时，就必须利用电表来检测接脚140， 以汰换不良的接脚140，或是干脆更新绝缘测试座110(包含所有接脚 140)。若是采取后本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种芯片测试机构的测试装置，其特征在于该芯片测试机构具有一绝缘测试座与一芯片压制金属块，该绝缘测试座被至少一接脚贯穿，该接脚具有一第一端部与一第二端部，且该绝缘测试座曝露出该第一端部与该第二端部，该芯片压制金属块具有至少一压制部，该压制部适于电性连接该第一端部，该芯片测试机构的测试装置包括：　　　　一电源供应单元，用以供应一电源电压；以及　　　　至少一发光元件，用以电性连接于该电源电压与该第二端部之间，当该压制部电性连接该第一端部且该芯片压制金属块电性连接至一共同电位时，该发光元件发光。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：杨伟源，陈世坤，黄国真，
申请(专利权)人：旺宏电子股份有限公司，
类型：发明
国别省市：71[中国|台湾]