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本实用新型涉及一种半导体热电性能测试仪，其特征在于包含提供中温环境的加热设备、氧化铝样品台、微热源、紫铜样品夹具、测试导线和热电偶与夹具及样品连接后与波发生器、数据采集仪及计算机连接。本实用新型装置的优点在于：可测电导率、Ｓｅｅｂｅｃｋ系数...
该专利属于同济大学所有，仅供学习研究参考，未经过同济大学授权不得商用。

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