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公开了半导体存储器件及其制造方法。该半导体存储器件包括：第一半导体图案，在衬底上并包括彼此背对的第一端和第二端；第一导电线，在该第一端和该第二端之间、与该第一半导体图案的侧表面相邻并垂直于衬底的顶表面；第二导电线，与第一半导体图案的第一端接...
该专利属于三星电子株式会社所有，仅供学习研究参考，未经过三星电子株式会社授权不得商用。

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