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本发明涉及存储单元检测技术领域，提出一种存储单元检测方法，用于通过一加热设备将所述存储单元加热至第一温度，该方法包括：将所述加热设备的温度调节至第二温度，所述第二温度大于所述第一温度；将所述加热设备的温度降低至所述第一温度。本公开提供的检测...
该专利属于长鑫存储技术有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过长鑫存储技术有限公司授权不得商用。

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