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本发明公开了一种基于空间聚类的wafer bin合并方法，涉及半导体制造业技术领域。通过空间聚类的方式，将构成同一失效模式的不同bin自动的进行合并，与此同时，具有混合失效模式的wafer bin map也能被分解为多个单一的失效模式，本发...
该专利属于上海喆塔信息科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过上海喆塔信息科技有限公司授权不得商用。

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