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本发明公开了一种利用原位布里渊散射光谱分析三方晶系材料折射率的方法，包括以下步骤：(1)采用立式样品台；(2)采用CCD显微摄像器；(3)将样品放置在立式样品台中，对散射配置进行改进；(4)测试前对法布里‑珀罗干涉仪进行较准；(5)对检测得...
该专利属于上海大学所有，仅供学习研究参考，未经过上海大学授权不得商用。

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