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本发明的光学测量设备和方法用于通过利用穿过持测物质的测量光和利用预定的参考光来测量含于待测物质中的特定成分的物理量，包括获取第一、第二光干涉信号的第一、第二干涉装置；将第一、第二光干涉信号转换为第一、第二电信号的第一、第二光电转换部分；扩展...
该专利属于京都第一科学株式会社所有，仅供学习研究参考，未经过京都第一科学株式会社授权不得商用。

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