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堆叠差异的确定和使用堆叠差异的校正制造技术
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文档序号:25833374
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一种方法,包括:获得使用图案化工艺处理的衬底上的量测目标的测量,该测量是使用测量辐射获得的;以及从测量导出图案化工艺的感兴趣参数,其中感兴趣参数由堆叠差异参数校正,堆叠差异参数表示目标的相邻周期性结构之间或量测目标与衬底上的另一相邻目标之间...
该专利属于ASML荷兰有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过ASML荷兰有限公司授权不得商用。
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