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本公开提供了一种测试结构和电路测试板，涉及半导体测试技术领域。本公开提供的测试结构和电路测试板，包括多个沿设定方向设置的测试区域，每个测试区域分别包括多条引线，位于同一测试区域的多条引线沿所处测试区域的中心线对称布置，且在所处测试区域中呈类...
该专利属于甬矽电子(宁波)股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过甬矽电子(宁波)股份有限公司授权不得商用。

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