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本发明提供了一种测试定位方法以及测试定位系统，涉及半导体测试技术领域，通过第一图像传感器对载片进行扫描，从而得到载片上的待测器件的位置信息，通过第二图像传感器对待测器件上的电极进行识别，从而得到电极的偏移信息，根据位置信息能够将待测器件调整...
该专利属于苏州能讯高能半导体有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过苏州能讯高能半导体有限公司授权不得商用。

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