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用于集成电路的低电阻率互连件及其形成方法技术
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文档序号:24999948
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本公开提出一种用于集成电路的互连件及其形成方法。形成用于集成电路的互连件的方法,包含:标识互连件势垒材料;标识多种潜在掺杂元素;形成包含互连件势垒材料的潜在势垒结构的集合体,互连件势垒材料在多个掺杂位置处且以多种潜在掺杂元素中的每一种的多个...
该专利属于三星电子株式会社所有,仅供学习研究参考,未经过三星电子株式会社授权不得商用。
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