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一种接触孔刻蚀方法技术
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文档序号:24942725
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本申请实施例公开一种接触孔刻蚀方法,包括:提供半导体结构,半导体结构包括若干堆叠排布的控制栅结构,控制栅结构的至少一侧形成台阶区域,台阶区域内下层控制栅结构侧壁凸出于上层控制栅结构侧壁;半导体结构还包括覆盖台阶区域的介质层;在介质层上形成硬...
该专利属于长江存储科技有限责任公司所有,仅供学习研究参考,未经过长江存储科技有限责任公司授权不得商用。
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